這是一款配備了 Timepix3 偵測器的微型化且低功耗輻射相機,具備粒子追蹤與成像功能(擁有 256 x 256 個正方形像素,像素間距為 55 微米)。它能為粒子追蹤與科學研究提供極高的多功能性與可攜性。

A standard well established particle counting and tracking camera

標準型 MiniPIX BASIC(舊稱:MiniPIX TPX Standard)偵測器整合了單一 Timepix 晶片(擁有 256 x 256 像素,像素間距為 55 微米),並可依據客戶需求搭配感測器(標準配置為 300 微米厚的矽感測器)。它具備每秒高達 55 幀的讀取能力(曝光時間為 1 毫秒)。該 Timepix 偵測器具有能量敏感度,為放射影像帶來了全新的維度。

MiniPIX BASIC 偵測器透過 USB 介面進行連接。它由隨機免費提供的 PIXet Pro 軟體進行控制,該軟體可在所有主流作業系統(MS Windows、Mac OS 和 LINUX)上運行。

您可以在哪些領域使用 MiniPIX BASIC 光子計數相機?主要用於醫療 X 光成像、材料分析或輻射監測:

  • 晶體學:能量散射 X 光繞射(ED-XRD)、小角度 X 光散射(SAXS)或廣角度 X X 光散射(WAXS),甚至能分析厚樣品或內部結構
  • 能譜伽馬射線成像:閃爍攝影(Scintigraphy)或單光子發射電腦斷層掃描(SPECT)、同位素放射攝影
  • 輻射監測:粒子類型分類、光譜學、方向敏感度
  • 伽馬相機:與額外硬體結合時(可依需求提供)
  • 康普頓相機:基於康普頓散射的伽馬射線成像,搭配專用的影像重建軟體模組
  • 粒子物理研究

Available variants

MiniPIX BASIC Flex

MiniPIX BASIC Flex 解決方案移除了堅固的外殼,以便將偵測器整合至大型工業系統中。它配備了 500 微米厚的矽(Silicone)感測層。

MiniPIX BASIC Flex 偵測器透過 USB 介面進行連接。它由隨機免費提供的 PIXet Pro 軟體進行控制。

Datasheet

 Specifications

光子典型能量範圍:3 – 20 keV

光子偵測效率:5 keV 以下接近 100%,超過 10 keV 後迅速下降;超過 30 keV 時效率小於 10%。

典型應用:

粒子追蹤

  • 電子與 X 光束流監測
  • 極低能量下的粒子追蹤(特別是「Si 100 無鋁鍍膜」版本)
  • 粒子識別與區分(高能質子、高能電子、低能電子、X 光、中子等)

典型行業:科學研究、電子顯微鏡(生命科學、生物醫學成像、微電子研究、低原子序數 [Low-Z] 材料測試)等。

Datasheet

光子典型能量範圍:5 – 40 keV

光子探測效率:8 keV 以下接近 100%,約 15 keV 時約為 50%,隨後朝 30 keV 逐漸下降;超過 50 keV 時效率小於 10%。

典型樣品:低至中密度材料,例如有機樣品、聚合物、陶瓷和複合結構。

典型應用:

粒子追蹤

  • 光子與粒子追蹤
  • 太空與輻射環境研究
  • 粒子識別與區分(高能質子、高能電子、低能電子、X 光、中子等)

典型行業:材料科學、電子產品檢測、生命科學成像、文化遺產分析、一般實驗室研究、太空環境監測、太空輻射與劑量學實驗、X 光繞射(XRD)、電腦斷層掃描(CT)等。

Datasheet

光子典型能量範圍:8 – 60 keV

光子探測效率:10 keV 以下接近 100%,17 keV 附近約為 50%,超過 40–50 keV 時效率小於 10%。

典型樣品:中密度材料,例如陶瓷、聚合物-金屬複合材料,以及較厚的有機或複合材料試樣。

典型應用:

粒子追蹤

  • 適用於光子與粒子追蹤
  • 粒子識別與區分(高能質子、高能電子、低能電子、X 光、中子等)

典型行業:材料研究、應用科學實驗室、太空環境監測、太空輻射與劑量學實驗、X 光繞射(XRD)、電腦斷層掃描(CT)等。

Datasheet

SPACE

Advacm的探測器在國際太空站、NASA 阿提米絲計畫、Gateway Lunar Station以及眾多衛星上使用,正在徹底改變太空天氣監測和輻射防護。 Advacam 的探測器可確保更安全、更有效率的任務。

這些探測器具有精巧的外型尺寸和低功耗優點,在粒子識別、能量測量,甚至確定粒子起源的方向方面表現相當出色。

NON DESTRUCTIVE TESTING

體驗我們先進探測器的強大功能,提供無與倫比的靈敏度、空間解析度和對比度。我們的單光子計數探測器可以快速發現各種材料中隱藏的細節,從輕質複合材料到厚焊接部件。該技術可抑制散射輻射,在創紀錄的時間內快速地捕捉高品質影像。

我們的光子計數X光成像功能能夠以無與倫比的精度顯示內部材料結構和斑點缺陷,例如孔隙率、纖維取向、微裂紋和分層。利用我們業界領先的解決方案提升您的無損檢測,樹立缺陷檢測的新標準。

MATERIAL ANALYSIS

您需要確定樣品的材料成份嗎?礦物、合金、聚合物、電子產品、電池或顏料?我們的探測器基於尖端的X光子計數探測器,每個檢測到的光子都經過單獨處理。這種方法還可以測量光子的波長。它帶來了前所未有的影像品質和新的可能性,例如材料敏感的X光成像。

此外,我們的探測器可實現快速、空間受限的X繞射儀器(XRD)和晶體分析解決方案。XRD樣品分析的執行速度比傳統系統快一個級別,光譜靈敏度提供了檢查樣品表面及其內部的獨特能力(能量色散(XRD)。

BIOMEDICAL

癌症研究、生物力學和藥物測試只是X光成像對生物學和醫學研究做出貢獻的幾個例子。與先前使用的方法相比,新型光子計數探測器代表了這些應用的重大進步。

現代探測器對於能量的高敏感度識別,提供各種類型的組織和顯影劑更好的可能性,這對生物醫療行業產生了重大影響,例如癌症研究,可以更好地將腫瘤組織與健康組織區分開來。

OTHER APPLICATIONS

ADVACAM為多種其他應用提供探測器和解決方案,例如電子顯微鏡、晶體學、中子成像、電離輻射源定位、帶電粒子追蹤和癌症治療劑量測定。此外,許多相機也用於基礎研究,例如歐洲核子研究中心(CERN)的大型強子對撞機加速器,學校和大學的輻射及其特性的教育。